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  • WF-10R 微分干涉檢測(cè)顯微鏡
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產(chǎn)品名稱: WF-10R 微分干涉檢測(cè)顯微鏡

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規(guī)格:

WF-10R 微分干涉檢測(cè)顯微鏡

無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),長(zhǎng)工作距離平場(chǎng)復(fù)消色差物鏡,穩(wěn)定可靠的架臺(tái),精確的調(diào)焦機(jī)構(gòu)。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、電子工業(yè)、等領(lǐng)域。DIC觀察模式尤其適合液晶顯示屏導(dǎo)電板的檢測(cè)。

產(chǎn)品規(guī)格

WF-10R
光學(xué)系統(tǒng)無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)
平場(chǎng)復(fù)消色差物鏡10倍/NA0.28/WD34
檢偏裝置0°~105°轉(zhuǎn)動(dòng)式檢偏器
微分干涉0 ~ 10mm 移動(dòng)式插板器
調(diào)焦系統(tǒng)同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu)、微動(dòng)格值:0.001mm調(diào)焦范圍:60mm
載物臺(tái) 矩形雙層活動(dòng)平臺(tái):260X220mm載物臺(tái)玻璃尺寸:170X150mm移動(dòng)范圍:±75X±75mm
照明系統(tǒng)LED反射式科勒照明, 帶起偏器

LDE透射照明

規(guī)格配置:


1.無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng):F=200MM

2.光學(xué)放大倍數(shù):50X、100X、200X

3.觀察方式:明場(chǎng)、偏光、微分干涉

4.長(zhǎng)工作距離:20-45MM

5.調(diào)焦范圍:60MM

6.平臺(tái)移動(dòng)范圍:X:±75MM、Y:±75MM

7.照明系統(tǒng):垂直LED照明、透射LED照明

8.成像裝置:數(shù)字相機(jī)或模擬攝像頭

觀察方式:


1.明場(chǎng)觀察:亮度可調(diào)同軸LED照明,視野清晰明亮,適合集成電路的檢驗(yàn)、精密制造業(yè)的裝配、零件檢測(cè)和品質(zhì)控制。

2.透射觀察:采用亮度可調(diào)的透射照明,可觀察透明樣品,尤其適合用戶液晶顯示屏的品質(zhì)檢測(cè),能清楚的觀察發(fā)光屏的三色模塊。

3.偏光觀察:系統(tǒng)內(nèi)裝置偏光機(jī)構(gòu)??烧{(diào)的檢偏鏡,便于正交觀察。廣泛應(yīng)用于金相試樣、巖礦、煤巖、高分子試樣等偏光觀察。

4.DIC觀察--微分干涉觀察:在系統(tǒng)插入DIC棱鏡裝置(渥拉斯頓棱鏡),能突出樣品各組成之間的相對(duì)層次關(guān)系,使之呈明顯的浮雕狀,對(duì)顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能做出正確的判斷。DIC顯微鏡觀察法特別適用于液晶顯示屏導(dǎo)電板的檢測(cè),能夠清楚的觀察到導(dǎo)電板基板上的導(dǎo)電粒子。


產(chǎn)品詳情:
WF-10R 微分干涉檢測(cè)顯微鏡超大平臺(tái)顯微檢測(cè)顯微鏡無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì),采用同軸照明,2X、5X、10X、20X、50X長(zhǎng)工作距離平場(chǎng)消色差物鏡,覆蓋低倍大視野觀察和高倍分辨率分析研究等應(yīng)用,廣泛用于液晶面板和半導(dǎo)體等品質(zhì)檢測(cè)。配置高清晰CCD相機(jī)采集顯微鏡圖像。體積:L:770,W:1240,H:470平臺(tái)臺(tái)面尺寸:650MMX650MM平臺(tái)移動(dòng)范圍:X:±270MM;Y:±270MM主機(jī)調(diào)焦范圍:Z:40MM
 WF-10R 微分干涉檢測(cè)顯微鏡6英寸高精度手動(dòng)平臺(tái)工作臺(tái)面:260x220MM玻璃面:170X150MM移動(dòng)范圍:X:±75MM、Y:±75MM
WF-10R 微分干涉檢測(cè)顯微鏡調(diào)焦部件粗調(diào)、微調(diào)獨(dú)立調(diào)節(jié),機(jī)構(gòu)運(yùn)行平穩(wěn),穩(wěn)定可靠,承載能力大。粗調(diào)采用齒輪、齒條驅(qū)動(dòng)方式,采用彈簧來平衡上升的動(dòng)力。微調(diào)采用杠桿原理來完成,不同于普通的齒輪傳動(dòng)微調(diào)方式。精度為0.001MM,調(diào)焦范圍60MM。
 WF-10R 微分干涉檢測(cè)顯微鏡

檢測(cè)顯微鏡單筒顯微鏡,物鏡可換??梢匝b在多種機(jī)架上使用,廣泛用于制造業(yè)的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)、記錄、分析研究。特點(diǎn)

:1.無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)  2.LED同軸照明3.根據(jù)被檢測(cè)的樣品需要可選物鏡2X、5X、10X、20X

 


服務(wù):
WF-10R 微分干涉檢測(cè)顯微鏡
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